日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀

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更新日期：2025-05-02

簡(jiǎn)要描述：

日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng)F3-CS
F3-CS是測(cè)量小樣品的測(cè)量系統(tǒng)。與測(cè)量臺(tái)集成的測(cè)量系統(tǒng)使其易于攜帶。
只需將樣品的測(cè)量面朝下放置在載物臺(tái)上即可進(jìn)行測(cè)量，約1秒即可測(cè)量出膜厚和折射率。

日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀

詳細(xì)介紹

類型	數(shù)字式	測(cè)量范圍	1

日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng)F3-CS

F3-CS是測(cè)量小樣品的測(cè)量系統(tǒng)。與測(cè)量臺(tái)集成的測(cè)量系統(tǒng)使其易于攜帶。
只需將樣品的測(cè)量面朝下放置在載物臺(tái)上即可進(jìn)行測(cè)量，約1秒即可測(cè)量出膜厚和折射率。

主要特點(diǎn)

緊湊的尺寸
輕松連接，僅 USB 連接
光學(xué)常數(shù)分析（折射率/消光系數(shù)）

主要應(yīng)用

光學(xué)鍍膜	硬涂層、防滴膜、聚對(duì)二甲苯等
平板	有機(jī)膜等

日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng)F3-CS

產(chǎn)品陣容

模型	F3-CS-UV	F3-CS	F3-CS-近紅外
測(cè)量波長范圍	190 – 1100nm	380 – 1050nm	950 – 1700nm
膜厚測(cè)量范圍	3nm – 40μm	15nm – 70μm	100nm – 250μm
準(zhǔn)確性*	± 0.2% 薄膜厚度		± 0.4% 薄膜厚度
準(zhǔn)確性*	1納米	2納米	3納米

*取決于樣品和測(cè)量條件

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日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀

主要特點(diǎn)

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